イベント
国内イベント
第30回 エレクトロテストジャパン は終了致しました。
●会期 ： ２０１３年１月１６日（水）～１月１８日（金） ３日間
●開催時間 ： １０：００～１８：００ （最終日は１７：００まで）
●会場 ： 東京ビッグサイト 東４ホール ５２－４０
主な出展品
３Ｄはんだ印刷検査機 ＶＰシリーズ
～機能改良された新バージョン～
～超高速デュアルレーン対応機～ 参考出展
３Ｄ ＩＣパッケージ印刷検査機 ＶＰＢシリーズ 参考出展
小物搬送デモンストレーション
～小形化、高速化する部品搬送に最適な機器をラインナップ～
ボンディングデモンストレーション
～微細化するICチップのボンディングをより高精度に、効率化するアクチュエータ～
会場、ブース案内
ご来場を心よりお待ちしております